■ 鍍層和合金（也包括薄涂層和低濃度）的材料分析
■ 電子行業， ENIG ， ENEPIG
■ 連接器和觸點
■ PCB 制造薄金（幾納米）和鈀鍍層的測量
■ 微量元素分析
■ 高可靠性應用的鉛（ Pb ）的測定（避免錫晶須）
■ 對硬質材料涂層的分析

■ XDAL237

■ 采用 DIN ISO 3497和 ASTM B 568標準，用于自動測量達到0.05μm 的鍍層和用于 ppm 級含量的材料分析

■ 3種不同的探測器可選（ Si-PIN 二極管；SDD 20 mm2；SDD 50 mm2）

■ 3種可切換基本濾片

■ 4種可切換準直器,最小測量點約為0.15mm

■ 樣品最高高度可達14cm,可編程 XY 工作臺，定位精度為10μm 

敬請期待