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絕緣劣性檢測設(shè)備

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■ 電化學(xué)(離子)遷移評估      

■ 絕緣特性評估                        

■ 泄漏電流評估

SIR 13

專用設(shè)計(jì)的 SMU 測量板可同時(shí)測量電化學(xué)遷移、絕緣電阻和絕緣特性評估,精度高。對電化學(xué)遷移現(xiàn)象進(jìn)行電氣捕獲,可在高溫和高濕度環(huán)境中進(jìn)行罐內(nèi)測量

■ 多通道絕緣可靠性測量

■ 由于所有通道均以 20 毫秒的間隔進(jìn)行測量,因此不僅隨時(shí)間推移而發(fā)生絕緣劣化,而且電化學(xué)遷移也不會泄漏

■ 最大施加電壓可從 250V/1kV/1.5kV/3kV/6kV/10kV 中選擇

■ 通道數(shù)為 8 到 128ch

■ 電壓施加用電源按通道獨(dú)立

■ 使用 Windows 應(yīng)用程序輕松操作和數(shù)據(jù)管理


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